請輸入網(wǎng)站標(biāo)題
取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
SMA余弦校正器
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~余弦校正器設(shè)計用于將光耦合到SMA接頭的光纖中，或從SMA接頭的光纖耦合出。校正器帶有一個散射片，位于公差很小的外殼中，外殼是由經(jīng)過陽極氧化發(fā)黑處理的鋁制造的。
余弦校正器中的散射片使得可在與散射表面最多呈180°角的方向上收集光。這使得在裝置中固有的采樣表面幾何所導(dǎo)致的問題降到最少。因而，這些散射片非常適用于光譜測量，或用作輻照探針。
余弦校正器中的散射片使得可在與散射表面最多呈180°角的方向上收集光。這使得在裝置中固有的采樣表面幾何所導(dǎo)致的問題降到最少。因而，這些散射片非常適用于光譜測量，或用作輻照探針。
在線客服
客服一
客服二產(chǎn)品詳情
文件下載
(SMA余弦校正器技術(shù)規(guī)格書-MY.pdf)
SMA余弦校正器
φ4凈口徑
產(chǎn)品描述：
余弦校正器設(shè)計用于將光耦合到SMA接頭的光纖中，或從SMA接頭的光纖耦合出。校正器帶有一個散射片，位于公差很小的外殼中，外殼是由經(jīng)過陽極氧化發(fā)黑處理的鋁制造的。
余弦校正器中的散射片使得可在與散射表面最多呈180°角的方向上收集光。這使得在裝置中固有的采樣表面幾何所導(dǎo)致的問題降到最少。因而，這些散射片非常適用于光譜測量，或用作輻照探針。
技術(shù)指標(biāo)：
項目 | 指標(biāo) | |
| 型號 | SCC1 | SCC2 |
| 散射片厚度(mm) | 0.5 | |
| 透過率@660nm(%) | 0.2 | |
| 凈口徑 | φ4 | |
| 輸入孔徑外殼(mm） | 光滑φ7.5 | SM05螺紋 |
| 輸出端口 | SMA連接器 | |
| 材料 | 陽極氧化鋁 | |
典型曲線
產(chǎn)品資料
大小
SMA余弦校正器技術(shù)規(guī)格書-MY.pdf
244.1KB
SMA余弦校正器
余弦校正器設(shè)計用于將光耦合到SMA接頭的光纖中，或從SMA接頭的光纖耦合出。校正器帶有一個散射片，位于公差很小的外殼中，外殼是由經(jīng)過陽極氧化發(fā)黑處理的鋁制造的。
余弦校正器中的散射片使得可在與散射表面最多呈180°角的方向上收集光。這使得在裝置中固有的采樣表面幾何所導(dǎo)致的問題降到最少。因而，這些散射片非常適用于光譜測量，或用作輻照探針。
余弦校正器中的散射片使得可在與散射表面最多呈180°角的方向上收集光。這使得在裝置中固有的采樣表面幾何所導(dǎo)致的問題降到最少。因而，這些散射片非常適用于光譜測量，或用作輻照探針。
13371811099
在線客服客服一客服二產(chǎn)品詳情
文件下載
(SMA余弦校正器技術(shù)規(guī)格書-MY.pdf)
SMA余弦校正器
φ4凈口徑
產(chǎn)品描述：
余弦校正器設(shè)計用于將光耦合到SMA接頭的光纖中，或從SMA接頭的光纖耦合出。校正器帶有一個散射片，位于公差很小的外殼中，外殼是由經(jīng)過陽極氧化發(fā)黑處理的鋁制造的。
余弦校正器中的散射片使得可在與散射表面最多呈180°角的方向上收集光。這使得在裝置中固有的采樣表面幾何所導(dǎo)致的問題降到最少。因而，這些散射片非常適用于光譜測量，或用作輻照探針。
技術(shù)指標(biāo)：
項目 | 指標(biāo) | |
| 型號 | SCC1 | SCC2 |
| 散射片厚度(mm) | 0.5 | |
| 透過率@660nm(%) | 0.2 | |
| 凈口徑 | φ4 | |
| 輸入孔徑外殼(mm） | 光滑φ7.5 | SM05螺紋 |
| 輸出端口 | SMA連接器 | |
| 材料 | 陽極氧化鋁 | |
典型曲線
產(chǎn)品資料
大小
更新日期
SMA余弦校正器技術(shù)規(guī)格書-MY.pdf
Copyright © 上海閔壹光電技術(shù)有限公司 All rights reserved.
滬ICP備2023020810號-1
滬ICP備2023020810號-1
選擇區(qū)號